Tokumi Yokohira
研究成果
プロセッサ制御回路におけるシ-ケンサのテスト集合生成法. / Yokohira, Tokumi.
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TY - JOUR
T1 - プロセッサ制御回路におけるシ-ケンサのテスト集合生成法
AU - Yokohira, Tokumi
PY - 1991
Y1 - 1991
M3 - Article
VL - Vol.J74-D-I
SP - 739
EP - 748
JO - 電子情報通信学会論文誌
JF - 電子情報通信学会論文誌
IS - No.10
ER -