Silicon vertex detector for the KEK Super B factory

T. Tsuboyama, H. Aihara, T. Arakawa, Y. Asano, T. Aso, A. Bakich, M. Barbero, T. Browder, M. C. Chang, Y. Chao, K. F. Chen, S. Chidzik, A. Chouvikov, Y. K. Choi, A. Das, J. Dalseno, S. Fratina, M. Friedl, Y. Fujiyama, J. HabaShow 61 moreShow lessK. Hara, T. Hara, B. Harrop, K. Hayashi, M. Hazumi, D. Heffernan, T. Higuchi, T. Hirakawa, C. Irmler, H. Ishino, N. K. Joshi, S. Kajiwara, H. Kakuno, T. Kameshima, T. Kawasaki, A. Kibayashi, Y. J. Kim, S. Koike, S. Korpar, P. Križan, H. Kurashiro, A. Kusaka, D. Marlow, H. Miyake, G. R. Moloney, Y. Nakahama, Z. Natkaniec, S. Okuno, S. Ono, W. Ostrowicz, H. Ozaki, L. Peak, M. Pernicka, M. Rosen, M. Rozanska, N. Sato, S. Schmid, J. Schümann, S. Stanič, H. Steininger, K. Sumisawa, O. Tajima, T. Takahashi, N. Tamura, M. Tanaka, N. Tani, G. N. Taylor, K. Trabelsi, K. Uchida, K. Ueno, Y. Ushiroda, G. Varner, K. Varvell, Y. S. Velikzhanin, C. C. Wang, M. Z. Wang, M. Watanabe, Y. Watanabe, H. Yamamoto, Y. Yamashita, T. Ziegler