C-8-2 HTS-SQUIDを用いた試料回転式磁化率計の試料形状最適化による高感度計測法の検討(C-8.超伝導エレクトロニクス,一般セッション)

Translated title of the contribution: C-8-2 Highly Sensitive Measurement Method by Optimizing Sample Shape Using HTS-SQUID Based Rotating Sample Magnetometer

堺 健司, 岡本 直大, 渡部 裕太, モハマドマワルディ サーリ, 紀和 利彦, 塚田 啓二

Research output: Contribution to journalArticle

Original languageJapanese
Pages (from-to)16
Journal電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集
Volume2014
Issue number2
Publication statusPublished - Sep 9 2014
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C-8-2 HTS-SQUIDを用いた試料回転式磁化率計の試料形状最適化による高感度計測法の検討(C-8.超伝導エレクトロニクス,一般セッション). / 堺健司; 岡本直大; 渡部裕太; サーリ, モハマドマワルディ; 紀和利彦; 塚田啓二.

In: 電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集, Vol. 2014, No. 2, 09.09.2014, p. 16.

Research output: Contribution to journalArticle

@article{3a30d0ccd51a4d018ca6a59f74af0c70,
title = "C-8-2 HTS-SQUIDを用いた試料回転式磁化率計の試料形状最適化による高感度計測法の検討(C-8.超伝導エレクトロニクス,一般セッション)",
author = "健司 堺 and 直大 岡本 and 裕太 渡部 and モハマドマワルディ サーリ and 利彦 紀和 and 啓二 塚田",
year = "2014",
month = "9",
day = "9",
language = "Japanese",
volume = "2014",
pages = "16",
journal = "電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集",
publisher = "一般社団法人電子情報通信学会",
number = "2",

}

TY - JOUR

T1 - C-8-2 HTS-SQUIDを用いた試料回転式磁化率計の試料形状最適化による高感度計測法の検討(C-8.超伝導エレクトロニクス,一般セッション)

AU - 堺, 健司

AU - 岡本, 直大

AU - 渡部, 裕太

AU - サーリ, モハマドマワルディ

AU - 紀和, 利彦

AU - 塚田, 啓二

PY - 2014/9/9

Y1 - 2014/9/9

UR - http://ci.nii.ac.jp/naid/110009882198

M3 - Article

VL - 2014

SP - 16

JO - 電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集

JF - 電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集

IS - 2

ER -