| Original language | Japanese |
|---|---|
| Pages (from-to) | 233-241 |
| Number of pages | 9 |
| Journal | 電子情報通信学会論文誌 |
| Volume | Vol.J77-D-I |
| Issue number | No.2 |
| Publication status | Published - 1994 |
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Yokohira, T. (1994). 多出力組合せ論理回路の局所全数テストのための最小テスト集合の生成－M系列発生器とEXORゲートを用いて－. 電子情報通信学会論文誌, Vol.J77-D-I(No.2), 233-241.
多出力組合せ論理回路の局所全数テストのための最小テスト集合の生成－M系列発生器とEXORゲートを用いて－. / Yokohira, Tokumi.
In: 電子情報通信学会論文誌, Vol. Vol.J77-D-I, No. No.2, 1994, p. 233-241.Research output: Contribution to journal › Article
Yokohira, T 1994, '多出力組合せ論理回路の局所全数テストのための最小テスト集合の生成－M系列発生器とEXORゲートを用いて－', 電子情報通信学会論文誌, vol. Vol.J77-D-I, no. No.2, pp. 233-241.
Yokohira T. 多出力組合せ論理回路の局所全数テストのための最小テスト集合の生成－M系列発生器とEXORゲートを用いて－. 電子情報通信学会論文誌. 1994;Vol.J77-D-I(No.2):233-241.
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TY - JOUR
T1 - 多出力組合せ論理回路の局所全数テストのための最小テスト集合の生成－M系列発生器とEXORゲートを用いて－
AU - Yokohira, Tokumi
PY - 1994
Y1 - 1994
M3 - Article
VL - Vol.J77-D-I
SP - 233
EP - 241
JO - 電子情報通信学会論文誌
JF - 電子情報通信学会論文誌
IS - No.2
ER -