Park, J. S., Furuta, H., Maruyama, T., Monjushiro, S., Nishikawa, K., Taira, M., Jang, J. S., Joo, K. K., Kim, J. Y., Lim, I. T., Moon, D. H., Seo, J. H., Shin, C. D., Zohaib, A., Gwak, P., Jang, M., Ajimura, S., Hiraiwa, T., Nakano, T., Nomachi, M.,
& 41 othersShima, T., Sugaya, Y., Cheoun, M. K., Choi, J. H., Pac, M. Y., Dodo, T., Hino, Y., Suekane, F., Ujiie, R., Harada, M., Hasegawa, S., Kasugai, Y., Meigo, S., Sakai, K., Sakamoto, S., Suzuya, K., Jordan, J. R., Spitz, J., Marzec, E., Botran, M., Kawasaki, T., Konno, T., Jang, H. I., Kang, S. K., Kim, E. J., Seo, H., Kim, S. Y., Kim, W., Niiyama, M., Peeters, S. J. M., Ray, H., Rott, C., Yu, I., Jeon, H., Jeon, S., Jung, D. E., Kim, S. B., Kwon, E., Lee, D. H., Stancu, I. & Yeh, M.,
Jul 2020,
In: Journal of Instrumentation. 15,
7, T07003.
Research output: Contribution to journal › Article › peer-review